專利分析方法的分類已趕不上專利分析方法本身發(fā)展的腳步
一、專利分析方法的發(fā)展階段
專利情報(bào)分析（以下簡(jiǎn)稱專利分析）是指對(duì)來自專利文獻(xiàn)中大量或個(gè)別的專利信息進(jìn)行加工及組合，并利用統(tǒng)計(jì)方法或數(shù)據(jù)處理手段使這些信息具有縱覽全局及預(yù)測(cè)的功能，并通過專利分析使它們由普通的信息上升為企業(yè)經(jīng)營(yíng)活動(dòng)中有價(jià)值的情報(bào)。專利導(dǎo)航、專利分析評(píng)議、專利預(yù)警分析、行業(yè)專利趨勢(shì)分析、產(chǎn)業(yè)專利分析等均是專利分析的下位概念。專利分析是保障企業(yè)技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)領(lǐng)先的有效措施和得力手段，成為企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新的重要內(nèi)容，是企業(yè)獲取競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的重要手段。
各類專利分析報(bào)告是專利分析方法的載體。專利分析方法主要可以劃分成三個(gè)發(fā)展階段：概念形成階段、學(xué)術(shù)研究階段和工具實(shí)現(xiàn)階段。
Seidel于1949年第一個(gè)系統(tǒng)地提出專利引文分析的概念，他指出專利引文是后繼專利基于相似的科學(xué)觀點(diǎn)而對(duì)先前專利的引證，Seidel同時(shí)還提出了高被引專利其技術(shù)相對(duì)重要性的設(shè)想。有些專利分析方法更側(cè)重于對(duì)專利信息內(nèi)部的深層次挖掘和分析結(jié)果客觀、準(zhǔn)確的研究。如Byungun Yoon, Yongtae Park提出了一種把文本挖掘技術(shù)和聯(lián)合分析、形態(tài)分析相結(jié)合的專利分析方法，利用專利信息發(fā)現(xiàn)新的、潛在的技術(shù)機(jī)會(huì)。
20世紀(jì)90年代后隨著信息技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)技術(shù)與專利數(shù)據(jù)庫(kù)的不斷發(fā)展、完善，專利分析法開始真正適用并應(yīng)用于企業(yè)戰(zhàn)略與競(jìng)爭(zhēng)分析之中，各種分析體系也開始不斷建立和完善。國(guó)外許多知識(shí)產(chǎn)權(quán)咨詢機(jī)構(gòu)都定義了不同的專利分析指標(biāo), 比如美國(guó)摩根研究與分析協(xié)會(huì)(Mogen Research & Analysis Association) 、美國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)咨詢公司CHI、湯森路透等。
隨著計(jì)算機(jī)的普及，信息技術(shù)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的發(fā)展，專利信息分析逐漸從手工處理過渡到了以計(jì)算機(jī)為工具的時(shí)代。由于面對(duì)的專利數(shù)據(jù)非常龐大，各種專利分析方法往往需要依賴于專利分析工具加以實(shí)現(xiàn)，分析工具直接影響到專利信息分析的效率和準(zhǔn)確性。這為專利分析提供了極大的便利條件，促進(jìn)了專利信息分析方法的研究和拓展應(yīng)用，而且也促使專利分析方法向自動(dòng)化、智能化、網(wǎng)絡(luò)化和可視化方向發(fā)展，出現(xiàn)了各種各樣的專利分析工具，如TI（Thomson Innovation）、Innography、WPIS等。
二、專利分析方法的已有分類方法
根據(jù)分析對(duì)象可分析的程度，通常將專利分析方法分為定性分析、定量分析、擬定量分析等類型。定量分析是利用數(shù)理統(tǒng)計(jì)、科學(xué)計(jì)量等方法對(duì)專利文獻(xiàn)及其相關(guān)信息進(jìn)行加工整理和統(tǒng)計(jì)分析。定量分析主要是主要是通過專利文獻(xiàn)上所固有的著錄項(xiàng)目來識(shí)別相關(guān)文獻(xiàn)，經(jīng)過數(shù)據(jù)加工分析獲得相關(guān)信息和情報(bào)。定性分析是將專利文獻(xiàn)信息的內(nèi)部特征（如說明書、權(quán)利要求書的內(nèi)容等）運(yùn)用數(shù)據(jù)挖掘等手段進(jìn)行歸納和整理，然后運(yùn)用專業(yè)技術(shù)進(jìn)行解讀和分析的方法。專利擬定量分析是專利定量分析與定性分析相結(jié)合的分析方法。專利擬定量分析通常由數(shù)理統(tǒng)計(jì)入手，然后進(jìn)行全面、系統(tǒng)的技術(shù)分類和比較研究，再進(jìn)行有針對(duì)性的量化分析。
有學(xué)者從分析維度的角度出發(fā)提出了“點(diǎn)”、“線”、“面”和“立體”四個(gè)層次的專利情報(bào)分析方法。“點(diǎn)”分析主要是對(duì)專利文獻(xiàn)上固有的單個(gè)著錄項(xiàng)，按有關(guān)指標(biāo)分別進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，是對(duì)專利信息的初步挖掘。“線”分析對(duì)專利數(shù)量、專利權(quán)人、專利申請(qǐng)日等“點(diǎn)”情報(bào)按照時(shí)間、空間、分類等進(jìn)行組配統(tǒng)計(jì)，或按照時(shí)間、空間、分類等進(jìn)行再排序的過程。將“線”情報(bào)加以組合，即綜合時(shí)間、空間、分類等方面的不同因素得到各種相互聯(lián)系的
還有按照專利分析的深淺程度將專利分析方法分為一維分析方法、二維分析方法以及綜合分析方法。還針對(duì)專利分析方法的分類方法還有基于不同研究目的和分析對(duì)象，比如針對(duì)不同研究目的或受眾的專利分析方法、面向技術(shù)預(yù)見的專利分析方法、面向企業(yè)戰(zhàn)略布局的專利分析方法、技術(shù)引進(jìn)中的專利分析方法、專利價(jià)值的分析方法等。
專利分析方法的分類已經(jīng)落后于發(fā)展中的專利分析方法本身。但是，上述這些分類方法相對(duì)于整個(gè)專利分析體系來說仍過于籠統(tǒng)，仍然是借鑒普通的研究方法的分類為主，沒有體現(xiàn)出專利分析的主體內(nèi)容和過程實(shí)質(zhì)，不利于初學(xué)者快速掌握專利分析方法的精髓。
分析目的決定了分析內(nèi)容，如只需要分析某行業(yè)的專利申請(qǐng)趨勢(shì)，則應(yīng)當(dāng)以數(shù)據(jù)層面的分析為主，如需要對(duì)某一即將出口的產(chǎn)品進(jìn)行專利侵權(quán)風(fēng)險(xiǎn)分析，則應(yīng)當(dāng)以技術(shù)層面的權(quán)利要求分析為主，如想要分析某一競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的專利挖掘策略時(shí)，則應(yīng)當(dāng)在技術(shù)層面分析的基礎(chǔ)之上進(jìn)行策略上的宏觀分析等。分析內(nèi)容決定了需要分析的深入程度，有些分析內(nèi)容不僅需要數(shù)據(jù)層面的分析，還需要技術(shù)層面、戰(zhàn)略層面乃至系統(tǒng)應(yīng)用層面的分析，如對(duì)競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的分析，既需要統(tǒng)計(jì)其專利申請(qǐng)趨勢(shì)的數(shù)據(jù)，又需要對(duì)其關(guān)注的重點(diǎn)技術(shù)、技術(shù)的研發(fā)動(dòng)向等技術(shù)層面進(jìn)行分析，還需要分析其專利布局策略、專利訴訟策略、專利運(yùn)用策略等。
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