ISO 10110 系列國際標準的內(nèi)容
ISO 10110 系列國際標準的內(nèi)容涵蓋了光學和光學儀器領域多個方面，具體包括以下部分：
ISO 10110-1：概述
提供了 ISO 10110 系列標準的總體介紹和框架，說明了該系列標準的目的、范圍和應用領域。
ISO 10110-2：光學材料缺陷 - 應力雙折射
規(guī)定了光學材料中應力雙折射的允許值及其測量方法，確保光學材料在應力作用下的光學性能穩(wěn)定。
ISO 10110-3：光學材料缺陷 - 氣泡與雜質
定義了光學材料中氣泡和雜質的分類、允許數(shù)量及尺寸等要求，保證光學材料的純凈度和透明度。
ISO 10110-4：光學材料缺陷 - 非均勻性與條紋
描述了光學材料中非均勻性和條紋的評估方法及允許范圍，確保光學材料的均勻性和光學性能。
ISO 10110-5：面形偏差
規(guī)定了光學元件表面形狀偏差的公差要求，包括弧矢差、不規(guī)則度、旋轉對稱不規(guī)則度等參數(shù)的測量和計算方法，確保光學元件的表面形狀精度。
ISO 10110-6：中心偏差
定義了光學元件中心偏差的允許范圍及其測量方法，包括基準點、線量形式表達的中心誤差等，保證光學元件的定心精度。
ISO 10110-7：表面缺陷偏差
規(guī)定了光學元件表面缺陷(如劃痕、麻點、破邊等)的允許數(shù)量、尺寸及評估方法，確保光學元件的表面質量符合要求。標準中詳細說明了表面缺陷的標注方法，如使用 5/N×A 表示一般表面缺陷，其中 N 為允許最大缺陷的數(shù)量，A 為最大允許缺陷面積的平方根。
ISO 10110-8：表面微觀輪廓
描述了光學元件表面微觀輪廓的測量和評估方法，包括粗糙度、波紋度等參數(shù)，保證光學元件的表面微觀結構符合光學性能要求。
ISO 10110-9：表面處理和鍍膜
規(guī)定了光學元件表面處理和鍍膜的要求，包括鍍膜材料、厚度、均勻性等方面的規(guī)定，確保光學元件的鍍膜質量和光學性能。
ISO 10110-10：元件技術要求的格式
提供了光學元件技術要求在圖紙上的表示方法和格式要求，確保技術信息的準確傳遞。
ISO 10110-11：非公差數(shù)據(jù)
定義了光學元件圖紙中非公差數(shù)據(jù)的表示方法和要求，為圖紙的完整性和準確性提供保障。
ISO 10110-12：非球面
規(guī)定了非球面光學元件的設計、制造和檢驗要求，確保非球面光學元件的光學性能和質量。
ISO 10110-13：激光輻射破壞閾值
定義了光學元件在激光輻射下的破壞閾值及其測量方法，為光學元件在激光應用中的安全性提供保障。
這些標準共同構成了 ISO 10110 系列國際標準，為光學和光學儀器領域提供了全面、詳細的技術規(guī)范，涵蓋了光學元件和系統(tǒng)的制造、檢驗、質量控制等多個方面。
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