ISO 10110 系列國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容
ISO 10110 系列國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容涵蓋了光學(xué)和光學(xué)儀器領(lǐng)域多個(gè)方面，具體包括以下部分：
ISO 10110-1：概述
提供了 ISO 10110 系列標(biāo)準(zhǔn)的總體介紹和框架，說(shuō)明了該系列標(biāo)準(zhǔn)的目的、范圍和應(yīng)用領(lǐng)域。
ISO 10110-2：光學(xué)材料缺陷 - 應(yīng)力雙折射
規(guī)定了光學(xué)材料中應(yīng)力雙折射的允許值及其測(cè)量方法，確保光學(xué)材料在應(yīng)力作用下的光學(xué)性能穩(wěn)定。
ISO 10110-3：光學(xué)材料缺陷 - 氣泡與雜質(zhì)
定義了光學(xué)材料中氣泡和雜質(zhì)的分類、允許數(shù)量及尺寸等要求，保證光學(xué)材料的純凈度和透明度。
ISO 10110-4：光學(xué)材料缺陷 - 非均勻性與條紋
描述了光學(xué)材料中非均勻性和條紋的評(píng)估方法及允許范圍，確保光學(xué)材料的均勻性和光學(xué)性能。
ISO 10110-5：面形偏差
規(guī)定了光學(xué)元件表面形狀偏差的公差要求，包括弧矢差、不規(guī)則度、旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則度等參數(shù)的測(cè)量和計(jì)算方法，確保光學(xué)元件的表面形狀精度。
ISO 10110-6：中心偏差
定義了光學(xué)元件中心偏差的允許范圍及其測(cè)量方法，包括基準(zhǔn)點(diǎn)、線量形式表達(dá)的中心誤差等，保證光學(xué)元件的定心精度。
ISO 10110-7：表面缺陷偏差
規(guī)定了光學(xué)元件表面缺陷(如劃痕、麻點(diǎn)、破邊等)的允許數(shù)量、尺寸及評(píng)估方法，確保光學(xué)元件的表面質(zhì)量符合要求。標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)說(shuō)明了表面缺陷的標(biāo)注方法，如使用 5/N×A 表示一般表面缺陷，其中 N 為允許最大缺陷的數(shù)量，A 為最大允許缺陷面積的平方根。
ISO 10110-8：表面微觀輪廓
描述了光學(xué)元件表面微觀輪廓的測(cè)量和評(píng)估方法，包括粗糙度、波紋度等參數(shù)，保證光學(xué)元件的表面微觀結(jié)構(gòu)符合光學(xué)性能要求。
ISO 10110-9：表面處理和鍍膜
規(guī)定了光學(xué)元件表面處理和鍍膜的要求，包括鍍膜材料、厚度、均勻性等方面的規(guī)定，確保光學(xué)元件的鍍膜質(zhì)量和光學(xué)性能。
ISO 10110-10：元件技術(shù)要求的格式
提供了光學(xué)元件技術(shù)要求在圖紙上的表示方法和格式要求，確保技術(shù)信息的準(zhǔn)確傳遞。
ISO 10110-11：非公差數(shù)據(jù)
定義了光學(xué)元件圖紙中非公差數(shù)據(jù)的表示方法和要求，為圖紙的完整性和準(zhǔn)確性提供保障。
ISO 10110-12：非球面
規(guī)定了非球面光學(xué)元件的設(shè)計(jì)、制造和檢驗(yàn)要求，確保非球面光學(xué)元件的光學(xué)性能和質(zhì)量。
ISO 10110-13：激光輻射破壞閾值
定義了光學(xué)元件在激光輻射下的破壞閾值及其測(cè)量方法，為光學(xué)元件在激光應(yīng)用中的安全性提供保障。
這些標(biāo)準(zhǔn)共同構(gòu)成了 ISO 10110 系列國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，為光學(xué)和光學(xué)儀器領(lǐng)域提供了全面、詳細(xì)的技術(shù)規(guī)范，涵蓋了光學(xué)元件和系統(tǒng)的制造、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制等多個(gè)方面。
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