電源輸出電流和沖擊電流測(cè)試介紹：

1,電源電流測(cè)試，將電流探頭卡在被測(cè)試中電流通路上（更換后的導(dǎo)線上），通過(guò)示波器觀察電源上電電流波形和上電后電流的平穩(wěn)波形，測(cè)試時(shí)注意電流探頭的方向。

注：電流測(cè)試須將系統(tǒng)負(fù)載調(diào)整到大，如輸入、輸出通道滿配，測(cè)試圖顯示髙頻圖像等，重點(diǎn)關(guān)注有效值（RMS）。

2,沖擊電流測(cè)試，將電流探頭卡在被測(cè)試中電流通路上（更換后的導(dǎo)線上），通過(guò)示波器觀察電源上電電流波形和上電后電流的平穩(wěn)波形，測(cè)試時(shí)注意電流探頭的方向，測(cè)試上電沖擊電流應(yīng)在系統(tǒng)滿載及冷機(jī)時(shí)進(jìn)行測(cè)試，沖擊電流大。測(cè)試下電沖擊電流好在系統(tǒng)滿載時(shí)進(jìn)行。

注：沖擊電流應(yīng)在系統(tǒng)上下電、單板拔插、電源拔插、風(fēng)扇拔插時(shí)，分別進(jìn)行測(cè)試，重點(diǎn)關(guān)注電流大值及持續(xù)時(shí)間。

公司主要提供高速電路測(cè)試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù)。

高速電路測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目有：

①SI信號(hào)完整性測(cè)試，主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測(cè)試、URAT測(cè)試、網(wǎng)口測(cè)試、USB2.0/USB3.0測(cè)試、MIPI測(cè)試、HDMI測(cè)試、及板卡上其它芯片接口的信號(hào)測(cè)試。

②PI電源完整性測(cè)試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號(hào)、冗余電源的均流參數(shù)。

③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、DisplayPort、PCIE。

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